竹田理化工業株式会社

表面分析/組成分析機器製品情報トップへ

電子線マイクロアナライザ
  • ＞EPMA-1720 Series
Ｘ線光電子分光分析装置
  • ＞AXIS Nova
  • ＞AXIS ULTRADLD
  • ＞ESCA-3400
走査型共焦点レーザ顕微鏡
  • ＞OLS4000
エネルギー分散型　蛍光Ｘ線分析装置
  • ＞EDX-LE
  • ＞EDX- GP
  • ＞EDX- 720/800HS
同時型蛍光Ｘ線分析装置
  • ＞FACTORY LAB MXF-2400
    　
発光分光分析装置
  • ＞PDA-8000
  • ＞PDA-7000シリーズ
    　　
ＩＣＰ質量分析装置
  • ＞ICPM-8500
走査電子顕微鏡
  • ＞Quanta シリーズ
ナノサーチ顕微鏡
  • ＞SFT-4500
    　
    　
走査型プローブ顕微鏡
  • ＞SPM-9700
波長分散型蛍光Ｘ線分析装置
  • ＞LAB CENTER XRF-1800
    　
    　
Ｘ線回折装置
  • ＞LabX XRD-6100
  • ＞MAXima_X XRD-7000
ＩＣＰ発光分析装置
  • ＞ICPE-9000
  • ＞ICPS-8100
  • ＞ICPS-7510
トップへ戻る